ICS 71.060.20 G 13 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 30449—2013 纳米二氧化锡 Nanoscale tin dioxide 2013-12-31发布 2014-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T30449—2013 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279）和全国化学标准化技术委员会 （SAC/TC63)共同提出并归口。 本标准起草单位：中国检验检疫科学研究院、柳州百韧特先进材料有限公司、广州市越珑金属粉末 有限公司、冶金工业信息标准研究院。 本标准主要起草人：闫妍、杨海峰、陈进中、李博、席广成、张庆、伍祥武、李俊芳、卢晓静、戴石锋。 GB/T30449—2013 纳米二氧化锡 1范围 本标准规定了纳米二氧化锡的分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、标签、包装、运输及贮 存等。 本标准适用于粉状纳米二氧化锡。经过表面化学修饰、分散于溶剂中或者生长于基底上的纳米二 氧化锡也可参照本标准执行。 分子式：SnO2。 相对分子质量：150.7（按2001年国际相对原子质量）。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T191—2008包装储运图示标志 GB/T6678—2003化工产品采样总则 GB/T66822008 分析实验室用水规格和试验方法 GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T 19077.1 粒度分析激光衍射法第1部分：通则 GB/T 19587 气体吸附BET法测定固态物质比表面积 GB/T19589—2004纳米氧化锌 GB/T19591—2004纳米二氧化钛 GB/T 23274.3 二氧化锡化学分析方法第3部分：砷量的测定砷锑钼蓝分光光度法 GB/T 23274.4 二氧化锡化学分析方法第4部分：铅、铜量的测定火焰原子吸收光谱法 GB/T23413 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定X射线衍射线宽化法 GB/T23841无机化工产品中镉含量测定的通用方法原子吸收分光光度法 HG/T3696.1 无机化工产品化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备第1部分：标准滴定溶 液的制备 HG/T3696.2 无机化工产品 化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备 第2部分：杂质标准溶 液的制备 HG/T3696.3 无机化工产品化学分析用标准溶液、制剂及制品的制备 第3部分：制剂及制品 的制备 3分类及代号 纳米二氧化锡按晶型可以分为四方型（T）、六方型（H）和正交型（O）三类。按不同的晶型，其产品 代号分别表示为NF-SnO,（T）、NF-SnO,（H)和NF-SnO，（O），其中NF为纳米粉体的首字母。 1 GB/T30449—2013 4 技术要求 4.1外观：白色或淡黄色粉末。 4.2 纳米二氧化锡产品技术要求包括纳米属性指标和理化属性指标两部分。其中纳米属性指标用于 判定纳米二氧化锡产品的纳米属性，见表1；理化属性指标用于检验纳米二氧化锡的常规理化性能指 标，见表2。 表1纳米二氧化锡的纳米属性技术要求 序号 项 目 技术要求 平均粒径/nm 1 ≤100 2 平均晶粒尺寸/nm ≤100 比表面积/（m²/g） ≥15 4 粒度分布Dsu/nm ≤500 5 形貌 应标明 表 2 纳米二氧化锡的理化属性技术要求 序号 项 技术要求 目 1 二氧化锡的纯度（干基）/% ≥99.9 2 铅(Pb)的质量分数/% ≤0.1% 3 砷(As)的质量分数/% ≤ 0.1% 镉（Cd）的质量分数/% ≤0.1% 4 5 铁(Fe)的质量分数/% ≤ 0.1% 6 铜（Cu)的质量分数/% ≤0.1% 7 锑（Sb)的质量分数/% ≤0.1% 8 晶型 应标明 9 白度 应标明 10 堆密度/（g/cm） 应标明 5 试验方法 5.1 安全提示 本试验方法中使用的部分试剂具有毒性或腐蚀性，操作时应小心谨慎！如溅到皮肤上应立即用水 冲洗，严重者应立即治疗。使用易燃品时，严禁使用明火加热。 5.2 一般规定 在没有注明其他要求时，本文件中所用试剂和水分别为分析纯试剂和GB/T6682一2008中规定的 三级水。试验中所用标准滴定溶液、杂质测定用标准溶液、制剂及制品，在没有注明其他要求时，均按 2 GB/T30449—2013 HG/T3696.1、HG/T3696.2和HG/T3696.3的规定制备 5.3平均粒径的测定方法 5.3.1仪器 透射电子显微镜：点分辨率小于0.5nm。 5.3.2分析步骤 按GB/T19589—2004中5.4.1中方法测定。 5.4平均晶粒的测定 5.4.1仪器 X射线衍射仪：综合稳定度优于1%，测角仪精度优于0.001 5.4.2 分析步骤 将样品按X射线衍射仪要求制样后进行衍射测定，角度范围从20°～80°通过测定样品衍射图谱 的三强峰的半峰宽，按GB/T23413规定测定分别计算平均晶粒，取三强峰计算值的算术平均值作为样 品的平均晶粒。 5.5比表面积的测定 称取适量试样，精确至0.001g，按GB/T19587规定的方法进行测定。 5.6 粒度分布 粒度分布的测定按GB/T19077.1的规定进行。 5.7形貌测定 5.7.1仪器 透射电子显微镜：点分辨率小于0.5nm。 5.7.2 分析步骤 在透射电子显微镜下观察纳米粒子的微观结构，确定颗粒的形貌，如类球形纳米颗粒（零维纳米结 构），纳米线、纳米管、纳米棒（一维纳米结构），纳米带、纳米片（二维纳米结构），分级纳米结构（三维纳米 结构）。 5.8铅含量的测定 铅含量按GB/T23274.4规定测定。 5.9 9含量的测定 砷含量按GB/T23274.3规定测定。 5.10镉含量的测定 称量0.2g~1g（精确到1mg），加人15mL王水，200℃消解至5mL左右，定容到150mL，镉含量 3