UDC621.382 L 55 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 14032—92 半导体集成电路数字锁相环 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 1992-12-18发布 1993-08-01实施 国家技术监督局发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路数字锁相环 测试方法的基本原理 GB/T14032—92 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环）电参数测试方法的基本原 理。 数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理》。 1总要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 1.6测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络 1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 1.8测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。 2参数测试 2.1动态功耗P。 2.1.1日的 测试器件动态工作时的功率。 2.1.2测试原理图 P.测试原理图见图1。 国家技术监督局1992-12-18批准 1993-08-01实施 1 GB/T 14032--92 电源 直 流 信 被测器件 号 源 频 定频网络 图 1 2.1.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度： b. 压控振荡器输电压； c. 定频网络的电阻和电容； d. 压控振荡器输出频率。 2.1.4 测试程序 2.1.4.1 将被测器件接入测试系统中。 2.1.4.2 接通电源。 2.1.4.3 调节直流信号源的输出电压，使压控振荡器输入电压V.为电源电压V+的号 2.1.4.4 调节定额网络中的电容，使压控振荡器输出频率为规范值。 2.1.4.5在电源端读取电流1的平均值。 2.1.4.6按式(1)计算Pa： P,- IV+ (1）) 2.2压控振荡器最高工作频率fmax 2.2.1月的 测试压控振荡器输入电压为最大值时的输出频率。 2.2.2测试原理图 fmax测试原理图见图2。 2 GB/T 14032—92 电源 流 信 被测器件 号 源 波 定频网络 图 2 2.2.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符台器件详细规范的规定。 a. 环境温度； b. 电源电压； 压控振荡器输入电压： c. d. 定频网络的电阻和电容； 压控振荡器输出端电平和波形。 e. 2.2.4测试程序 2.2. 4. 1 将被测器件接入测试系统中。 2. 2. 4. 2 接通电源。 2.2.4.3 调节直流信号源的输出电压使压控输入电压V为电源电压V+ 2.3压控振荡器输出频率温度系数αi， 2.3.1目的 在规定的温度范围内测试单位温度变化所引起的压控振荡器输出频率的相对变化。 2.3.2测试原理图 αr测试原理图见图3。 3 GB/T 14032—92 电源 恒温箱 直 流 信 被测器件 号 源 定频网络 图3 2.3.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度； b. 电源电压； c. 压控振荡器输入电压； d. 定频网络的电阻和电容。 2.3.4测试温度 2.3.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.3.4.2接通电源。 2.3.4.3调节压控振荡器的直流输入电压V为V+的- 2.3.4.4将器件置于规定的环境温度T，下，读取压控振荡器的输出频率f1。 2.3.4.5将器件置于规定的环境温度T下，读取压控振荡器的输出频率f2。5 2.3.4.6按式(2)计算af： fz - f1 × 100% ( 2 ) ar f(T - TI) 2.4压控振荡器线性误差E， 2.4.1目的 测试压控振荡器传输特性曲线对于其最佳拟合直线的最大偏差。 2.4.2测试原理图 El.测试原理图见图4。