ICS: 27.120 F 88 GR 中华人民共和国国家标准 GB/T 13179—2008 代替GB/T13179—1991 硅（锂）X射线探测器系统 Si(Li)X-ray detector system 2008-07-02发布 2009-04-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 13179—2008 目 次 前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义以及符号 产品分类 4 5 技术要求 6 试验方法 检验规则 15 标识、包装、运输、贮存 8 16 附录A（资料性附录）从X能量分辨率计算电噪声近似值的方法 18 参考文献 图1 端帽尺寸图 图 2 总体外型结构图 图3 被测特性的基本测量系统· 图4 典型的噪声测量脉冲幅度谱 图5 用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统 图6 线性的测量和表示 图7 温度效应的测量系统（以能谱仪为例） 表 1 硅（锂）X射线探测器系统产品规格表 表 2 （真空)冷室及端帽分类. 表3不同灵敏面积探测器的峰谷比要求 表4参考条件和标准试验条件 6 表 5 测量常用放射源 10 表 6 检验项目分类及要求 16 表7抽样方案表 GB/T13179—2008 前言 本标准参照了IEC60759：1983《半导体X射线能谱仪标准测试程序》。c 本标准代替GB/T13179—1991《硅（锂）X射线探测器系统》。 本标准与GB/T13179—1991相比主要差异如下： 第3章）； 产品的特征代号增加了两位表示灵敏体直径（见本标准的4.1）； 一在表1“硅（锂）X射线探测器系统产品规格表”中，增加了一栏灵敏直径的条目（见本标准的 4. 2); 表1中的能量分辨率每档均降低5eV（见本标准的4.2）； 充实了试验方法的内容（见本标准第6章）。 本标准附录A为资料性附录。 本标准由中国核工业集团公司提出。 本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。 本标准起草单位：中核（北京)核仪器厂。 本标准主要起草人：国利。 本标准所替代标准的历次版本发布情况为：GB/T13179一1991。 I GB/T13179—2008 硅（锂）X射线探测器系统 1范围 本标准规定了硅（锂）X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等 本标准适用于带有液氮贮存容器的室内用硅（锂）X射线探测器系统，但不适用于扫描电镜的、便携 式或非液氮冷却硅（锂）X射线探测器系统 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T4960.6核科学技术术语核仪器仪表 GB/T10257—2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则 3术语和定义以及符号 3.1术语和定义 GB/T4960.6确立的以及下列术语和定义适用于本标准 3. 1. 1 硅（锂）探测器Si(Li）detector 通常利用核辐射在半导体中产生的过剩自由电荷载流子的运动来探测入射辐射的探测器。 注：本标准中的术语“探测器”若无特别说明均指硅锂Si(Li)X射线探测器。 3. 1.2 （探测器的）铍窗 Bewindow(ofdetector) 探测器中便于让被测辐射穿透过去的部分。 3.1.3 真空保温液氮容器（杜瓦瓶）Dewar 用来冷却半导体探测器的液氮（LN2）真空容器 3. 1. 4 能量分辨率 energy resolution(of semiconductor detector) 半导体探测器对能谱的半高宽（FWHM）的贡献（包括探测器的漏电流噪声），通常用能量单位 表示。 3.1.5 半高宽（FWHM）fullwidthathalfmaximum(（FWHM) 在单峰构成的分布曲线上，峰值一半处，曲线上两点的横坐标间的距离。 注：如果该曲线由几个峰组成，则每个峰都有一个半高宽。 3. 1.6 十分之一高宽（FWTM）fullwidthattenthmaximum（FWTM） 在单峰构成的分布曲线上，峰值十分之一处，曲线上两点横坐标间的距离。 3.1.7 峰谷比peaktovalleyratio 给定的两个谱峰间的峰谷比是较大峰的高度与两峰间谷的最小高度之比。 1 GB/T 13179—2008 3. 1. 8 峰尾比 peakto tailratio 对于55Fe标准源在5.9keV峰位处计数与5.4keV、4.5keV和1keV能量处的平均计数之比值。 3. 1. 9 硅（锂）X射线探测器系统Si(Li）X-Raydetectorsystem 利用对X射线灵敏的半导体探测器产生与X射线能量成正比的电信号（电子-空穴对的数目）的原 理以测量X射线的系统。它通常由半导体X射线探测器、低噪声前置放大器和低温真空装置三部分组 成，以下简称探测器系统。 3.1.10 硅（锂）X射线能谱仪Si(Li）X-rayenergy spectrometer 由探测器系统、探测器偏压电源、主放大器和多道分析器（包括计算机化的多道分析器）组成以测量 X射线能量分布的仪器（以下简称能谱仪）。 3. 1. 11 主放大器（成形放大器）mainamplifier（shapingamplifier） 在放大器系统中，跟在前置放大器之后且包含有脉冲成形网络的放大器 3. 1. 12 成形网络shapingnetwork 由（一个或儿个微分器组成的）高通网络和（儿个积分器组成的）低通网络组成的网络。它可以减少 （改变）前置放大器输出的脉冲宽度，从而提高其时间分辨率和信号噪声比 3.1.13 多道分析器（MCA）multi-channelanalyzer（MCA） 多于一道的分析器，通常包含有足够多的道数。按照输入信号的一个或多个特性（幅度、时间等）对 信号进行分类计数，从而测定其分布函数。 3. 1. 14 谱线spectrumline 表示一个入射辐射特性的谱的尖峰部分，通常是指单能辐射的全能峰 3.1.15 （单能峰的）尾tail（ofmono-energetic spectral peak） 由待测的单能辐射引起的而又不遵守全能峰谱形（准高斯形）限制的任何峰形畸变。 3. 1. 16 SAG 峰位peakposition 在脉冲幅度谱中一个峰（谱线）的矩心处的能量或等效量。 3. 1. 17 积分非线性（INL）integralnon-linearity（INL） 以最大额定输出脉冲幅度（或多道分析器道数）的百分数表示的、实际响应曲线与理想响应直线间 的最大偏差。 3.1.18 噪声线宽noiseline-width 噪声对谱峰宽度的贡献。 3.1.19 （半导体X射线能谱仪的）标准工作轴线standardworkingaxis（of semiconductorX-rayenergy spectrometer) 通过探测器人射窗中心，且垂直于人射窗的一条直线。 2