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ICS_17.040.10 J 04 GB 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z24636.1—2009 产品几何技术规范(GPS) 统计公差 第1部分:术语、定义和基本概念 Geometrical Product Specifications(GPS)-Statistical tolerance- Part 1: Terms,definitions and basic concepts 2009-11-15发布 2010-09-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/Z 24636.1—2009 目 次 前言 II 范围 1 2 规范性引用文件 3 术语和定义 3.1与规范限值有关的术语和定义 3.2与制造过程相关的质量特性值的统计参数和定义 3.3与制造过程相关的质量特性值的质量指标和定义 3. 4 与过程能力指数有关的术语和定义 4基本概念 4. 1 统计公差的三个层次 4.2 过程质量指标和过程能力指数的统计公差 4. 3 标准化的二维统计公差 4. 4 过程统计参数的统计公差, 4.5 多个质量指标的统计公差…. 4.6统计公差带 附录A(资料性附录) 统计公差带及表示形式 附录B(资料性附录) 在GPS矩阵模型中的位置 GB/Z24636.1—2009 前言 GB/Z24636《产品几何技术规范(GPS) 统计公差》分为如下五部分: 第1部分:术语、定义和基本概念; 第2部分:统计公差值及其图样标注; 一第3部分:零件批(过程)的统计质量指标; 一第4部分:基于给定置信水平的统计公差设计; 一第5部分:装配批(孔、轴配合)的统计质量指标。 本部分为GB/Z24636的第1部分。 本部分的附录A和附录B为资料性附录。 本部分由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。 本部分起草单位:中机生产力促进中心、山东理工大学、郑州大学、中原工学院、浙江亚太机电股份 有限公司、西安交通大学。 本部分主要起草人:熊混、张宇、张琳娜、赵则祥,黄国兴、陈秀娟、景蔚萱、杨慕升。 GB/Z24636.1—2009 产品几何技术规范(GPS) 统计公差 第1部分:术语、定义和基本概念 1范围 GB/Z24636的本部分规定了统计公差的术语、定义和基本概念。 本部分适用于应用统计过程控制的线性尺寸,特别是具有较高公差等级的配合尺寸,也适用于具有 双侧规范限且应用统计过程控制的计量型质量特性。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/Z24636的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文 件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本 部分。 GB/T3358.1一1993统计学术语第1部分:一般统计术语 GB/T18779.1一2002产品几何量技术规范(GPS)工件与测量设备的测量检验第1部分:按 规范检验合格或不合格的判定规则(eqvISO14253-1:1998) MOD) 3术语和定义 3.1与规范限值有关的术语和定义 3. 1. 1 上规范限(USL)upperspecificationlimit [GB/T18779.1—2002定义3.7] 3. 1.2 下规范限(LSL) lower specification limit [GB/T18779.1—2002定义3.8] 3.1.3 规范中心值(M) middleof specification USL + LSL M= 2 3.1. 4 公差(T)tolerance [GB/T18779.1—2002定义3.2] 3.1.5 统计公差(ST) statistical tolerance 由特定符号和数值表示的相关质量指标、过程能力指数和统计参数的允许范围,它规定了与制造过 1 GB/Z24636.1—2009 程相关的质量特性的概率分布特性。 注:符合以下条件时,采用统计公差: 1)配合尺寸仅按极值法不能满足配合精度和质量特定要求时; 2)作为设计/制造/质量并行设计和综合改进的结合点; 3)制造过程处于受控状态下的批量生产。 3. 1. 6 过程目标值(T.)targetofprocess 给定的质量特性的特定值,一般取为规范中心值M。 3.2与制造过程相关的质量特性值的统计参数和定义 3.2. 1 过程均值(u)meanofprocess 与制造过程相关的质量特性的数学期望。 3.2.2 过程标准差(α) standarddeviation ofprocess 与制造过程相关的质量特性的方差的正平方根。 3.2. 3 样本标准差(S) sample standard deviation 样本方差的正平方根。 [GB/T3358.1—1993定义3.30] 3.2.4 过程偏移(△)shiftof process 均值对目标值的偏移。 A=μ-T 注:当过程目标值取为规范中心值M时,△=μ一M。 3.2.5 过程偏移参数(k)shiftparameterofprocess 过程均值对目标值的偏移参数。 T/2 T T/2T 3.2.6 过程标准化偏移(S)standardizedshiftofprocess 过程均值对目标值以标准偏差。度量的偏移。 3.3与制造过程相关的质量特性值的质量指标和定义 以下质量指标均指形成该项质量特性值的工序过程处于受控稳定状态时的相关统计量 3. 3. 1 过程不合格率(Pa) nonconformingpercentageofprocess 质量特性值不符合规范的产品数量和投人该工序过程的产品数量之比,以百分率表示。 3.3.2 过程优等率(P)superiordegreepercentageof processoutput 质量特性值在优等区内的数量和投入该工序过程的产品数量之比,以百分率表示。图1所示为一 2
GB-Z 24636.1-2009 产品几何技术规范 GPS 统计公差 第1部分:术语、定义和基本概念
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