ICS 31.080.01 CCS L 40 GE 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.35—2024/IEC 60749-35:2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的 声学显微镜检查 Semiconductor devicesMechanical and climatic test methods- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006,IDT) 2024-03-15发布 2024-07-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会

.pdf文档 GB-T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

文档预览
中文文档 24 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分
温馨提示：本文档共24页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 第 1 页 GB-T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 第 2 页 GB-T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 第 3 页
下载文档到电脑，方便使用
本文档由 人生无常 于 2024-06-27 22:15:10上传分享
举报
下载(11.6 MB)
分享
友情链接
友情链接
国家标准网 信安文库网 国家标准网 国家标准网
站点地图
青ICP备2010007617号
Powered By DocHub 2.4
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们微信(点击查看客服)，我们将及时删除相关资源。